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Probe card cleaning system

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400P-A / 400P-S

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작성자 관리자
댓글 0건 조회 316회 작성일 21-08-01 20:41

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Probe card cleaning system 400P-A / 400P-S


- 반도체 웨이퍼를 검사하는 Probe card를 세정하는 장비로 레이저를 이용해 Probe tip 표면의 오염을 제거합니다. 

- Probe card 종류에 따라 작업 recipe를 작성하여 자동으로 세정합니다.

- 자동, 반자동, 수동 장비가 있습니다


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